(1)顯微鏡法常在放大率450?600倍的顯微鏡下對(duì)塵粒 譏行逐個(gè)測(cè)量，從而取得定向徑、定向等面積徑、投影面積徑等。在測(cè)量時(shí)整個(gè)視野范圍內(nèi)的塵粒數(shù)不得超過50? 70個(gè)，避免粒子間的重疊，每次至少測(cè)量200個(gè)以上。光學(xué)顯 微鏡可以測(cè)定微米級(jí)的粒徑，電子顯微鏡可以測(cè)定納米級(jí)的 粒徑。

(2)    篩分法取25?200g塵樣（一般取100g作為標(biāo)準(zhǔn)）， 通過一套篩子進(jìn)行篩分，按不同篩孔上的殘留量計(jì)算出不同粒徑 范圍的顆粒質(zhì)量占總質(zhì)量的百分?jǐn)?shù)。我國(guó)采用泰勒標(biāo)準(zhǔn)篩，孔目40fxm。篩分法可用手工和振篩機(jī)篩分，任一種篩分都要求 每分鐘通過每只篩子的塵量不超過0. 05g或篩上塵量（未通過篩 孔，留在篩上的粉塵量）的0.1%。

(3)    細(xì)孔通過法常用庫(kù)爾特（Coulter)計(jì)數(shù)器測(cè)量，它 使塵粒在電解介質(zhì)中通過孔口，由于電阻的變化而引起電壓的波 動(dòng)，電壓波動(dòng)值越大，則塵粒的體積越大。此法測(cè)得的是等體積 徑，測(cè)得的范圍為0. 6?50(Vm。此法需要的試樣少（2mg)，分 析快，只需幾十秒鐘。

(4)    沉降法制訂此法的依據(jù)是不同大小顆粒在液體介質(zhì)中 的沉降速率各不相同這一原理，它是氣體除塵試驗(yàn)研究中應(yīng)用廣泛的方法。